测试原理

开短路测试(Open Short Test)用于测试芯片各个引脚内部是否开路，引脚间的是否有短路，以及测试时与测试机连接是否良好。测试原理比较简单，一般分为 Open short to VDD 测试和 Open short to VSS 测试。一般芯片每个管脚都有由两个首尾相接的二极管组成的 ESD 保护电路，一端接VDD，一端接 VSS，两个二极管中间引出芯片管脚。

测试目的

该测试主要测试各管脚对地及对电源的这两个 ESD 保护二极管是否正常，也能检测到芯片和测试机的连接状态是否正常，所以有时也叫连接性测试。

测试方法

Open short to VDD

给所测试的管脚灌 100uA 的电流，其他管脚给零电位或直接接地，然后测出管脚电压即为 VDD 二极管压降。

典型值通常为 0.65V，范围在 0.2V ~ 1.5V 之间

Open short to VSS

从所测试的管脚拉 -100uA 的电流，其他管脚给零电位或直接接地，然后测出管脚电压即为 VDD 二极管压降

典型值通常为 -0.65V，范围在 -0.2V ~ -1.5V 之间

测试结果

如果测到的值小于 0.2 或大于 -0.2，则为短路
如果测到的值小于 -1.5 或大于 1.5，则为开路

可能遇到的问题

有的时候测到的值非常临界，则有可能是电压电流源与所测试管脚之间的连接线与管脚的接触电阻比较大，电流流过去的时候造成电压较大，导致误判为开路。所以接触问题，是开短路测试中最大的问题。

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最后编辑于: 2021 年 2 月 24 日 11 时 36 分